它在本文中引用。硅碳化物技术在街道的可持续应用中起着关键作用，以减少排放并实现零目标。这些应用可以通过将电力电子设备添加到系统（例如电机控制器）或使用现有系统以实现更高电压并提高效率的电动电子设备来实现。随着越来越多的集成电气系统的应用，对电路保护的需求很重要。由于修理或更换组件的成本可能很高，因此设计师实施了更强大的电路保护方法。电路中断设备仅限于保护线，不再足以容纳敏感的电子负载。电子电路中断解决方案保护电路并限制短路电流和传输到失败负载的能量，以使负载本身不会受到损坏。传统电路保护设备传统保险丝的局限性ARe一次性组件，必须在删除故障后更换。因此，我们指定保险箱仅合并到恒定的高电流。这可以保护系统中的线路，但不能保护敏感的负载，并且可能导致系统级别的不活动时间。随着时间的流逝而融合年龄，并对性能产生严重影响。例如，保险丝更加敏感，并增加了意外绊脚石的风险。否则它将变得敏感，需要高电流才能使绊脚石。由于保险丝是可更换的元素，因此使用维护的友好设计在保险丝系统中很重要。从维护的角度来看，保险丝的维护很重要，但这可能会对长期可靠性产生负面影响。需要保险丝，保险丝支撑以及受保护电路和保险丝盒之间的附加电路。保险丝盒通常包含面板，拉链和生态洗衣机。在高压系统中，互锁循环是GE当打开保险丝面板时，逐渐用于关闭系统供稿。这些额外的维护组件中的每一个都有失败的风险，进一步降低了保险丝的使用寿命。此外，茎的高压，只有受过训练和合格的人才能替换保险丝。同样，继电器或接触器控制负载电源源。即使在高电流下，重传中的电压下降也很小，但是更改为电容载荷并中断诱导的电流将导致较低的重传性接触性能。由继电器和Rovertreek组成的预紧电路通常用于将下游电容器加载到系统电压20 V之内。这避免了激活后继电器或接触器的接触，避免焊接，支付接触并最大程度地减少氧化。但是，每次激活它们的触点工作都会降低和退化。这是缩短用途寿命的长期磨损机制之一。许多CC分销系统使用电容载荷的接触器或继电器包括用于进入和输出的精确电压测量电路，以确保满足电压差条件。电压测量误差越高，接触的电势差异越大，进一步降低性能并最终缩短了使用寿命。当继电器或接触器断开连接时，触点是隔离的，并在输入电路和出口电路之间创建空气空间。但是这并不意味着它们没有电连接。在许多情况下，当继电器断开连接时，电流会继续在短时间内流过空气空间。这进一步降低了接触性能。高压电子系统的优点是设计人员依赖电子解决方案（例如电子保险丝）的低精度保险丝，有限的使用时间和不规则性在继电器和接触器中的不规则性的原因。在许多情况下，主要原因是Rel的目的能力。系统融合的主要优点，集成，功能，恢复和活动时间是电子融合的主要优点之一。但是，主要的驱动力是能够显着提高系统可靠性的能力。 E-Fuse是一种固体且可配置的固态电路中断设备。碳化硅是最佳的功率半导体技术，因为其高分辨率电压等级，低电阻和高热电导率在400V和800V系统中。电子保险丝阻止了单向半导体开关，该开关将电压和电流沿一个方向阻塞，或两个方向的两个方向开关，从而在两个方向上阻塞电压和电流（例如，负载进料和电源）。它可以是两道开关。电子保险丝结合了保险丝和机电继电器的功能，可能包括诸如负载电流报告之类的其他特征，从而消除了系统中独立电流传感器的需求。图1微芯片ELEctronic融合技术演示板SIC电子融合演示板达到了快速响应时间，并将短路电流限制为数百个AMP。 Orsando宽带流检测电路和默认配置，检测700纳秒中的短路并擦除1-6微秒（取决于系统的电感）。图2中临时电流特征曲线（TCC）定义的旅行行为可以通过软件或局部互连网络（LIN）配置。 TCC曲线包括三种检测方法：联合温度估计，基于数字（ADC）类似物的当前采样以及可以通过软件配置的硬件检测电路。图3中的检测电路包括具有开尔文检测连接（提供精确的电压测量值）的衍生电阻，一个具有高生成带宽产品的OC放大器，具有可配置R的高速比较器收益和摘要CANRA快速检测和保护短路。在不需要立即响应的过载的情况下，当前含义信号由ADC和MicroController固件处理。该设计包括两种工作模式：边缘激活模式或交叉模式。在边缘激活模式下，超过阈值的过电流会触发立即关闭。在交叉模式下，过电流立即将塞林门驱动到较低的电压，从而延长了短电路支撑的时间。如果过电流周期超过预定义的可配置周期，则SIC MOSFET熄灭并中断电路。但是，如果电流降至阈值以下，则MOSFET门会返回到全门单元。图2 TCC曲线图3出色的短路保护的过电流检测和保护实现图4显示了负载冷凝器短路测试期间允许的电流。快速演示响应时间，电子保险丝在更严重的工作条件下进行了测试，六次源电感降低，当前运行量是最明显的熔断器测试的六倍。 A p。即使在这种情况下，电子融合测试中的短路电流峰值仅为216a，但保险丝允许最大电流为3.6 ka。电子保险丝的总故障清除时间为672 ns，常规保险丝的总故障消除时间为276 µs。除了减少低电路公差电流（LT）的快速故障清除时间外，允许的能量比传统保险丝低数百倍。在此测试中，电子保险丝的耐受能量为406 MJ，而受熔体保护的电路的耐受能量为85J。预计这种显着的性能差异可以防止由于保险丝的电子保护而导致刚性故障的故障负载。此外，保险丝测试C彻底排干CC总线冷凝器。但是，在受电子熔断器保护的电路中，450 V CC总线电压在不到200纳秒的2 V中单独下降。这是一个重要的优势，因为该系统可以继续工作，而不必担心会导致CC总线电压块或CC总线电压下降。在许多系统中，故障会导致危险或昂贵的不活动时间，但是电子保险丝提供了出色的电路保护。为了总结测试的结果，短路的电子清洁速度增加了300倍，允许的电流降低了16次，允许的能量在维持CC总线的稳定性的同时减少了200次。图4使用保险丝（上）和电子融合（下）短路测试。如上所述，基于SIC的电子保险丝在系统级别上提供了几个优点，不仅比传统解决方案更有效地保护线条和加载，而且还具有SI的效率MPLEDS系统设计和集成保护，控制和检测。随着对较高电压的需求，最高效率和较低的变化损失继续增加，对宽带间隙半导体的需求继续增加。这些应用中的电气系统受益于电子保险丝解决方案，以消除服务的限制并改善系统活动，可靠性和安全性。